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X-3000是一種體現X射線(xiàn)熒光分析技術(shù)進(jìn)展的能量色散X射線(xiàn)熒光光譜儀。它采用低功率小型X光管為激發(fā)源，電制冷硅半導體探測器為探測單元，再加上我公司專(zhuān)門(mén)開(kāi)發(fā)的應用軟件，充分發(fā)揮各部件的優(yōu)異性能，保證了整臺儀器的高分辨率及通用適應性。需要多元素同時(shí)分析的地方，正是它大有作為之處。
技術(shù)參數：
激發(fā)源：本機采用低功率 X 射線(xiàn)管（Mo靶），最高電壓可達50KV，最大電流1mA
高壓電源：最大50W，50KV，1mA
探測器：電制冷 Si PIN半導體探測器（55Fe的能量為5.9Kev的MnKα線(xiàn)，分辨率優(yōu)于170KeV）
多道分析器：2048道
軟件：基于WINDOWS的強大工作軟件。定量分析包括：經(jīng)驗系數法，理論a系數法和基本參數法。 定性分析包括： KL線(xiàn)標記， 譜圖比較和光標尋峰等�？蛻�(hù)可進(jìn)行二次開(kāi)發(fā)，自行開(kāi)發(fā)任意多個(gè)分析方法。
電源：交流220V 50Hz
體積：520mm×600mm×270mm
重量：約 42kg (主機)
主要特點(diǎn)：
X-3000型測金儀優(yōu)勢的方面為采用了目前世界上較為先進(jìn)的半基本參數法。該方法是一種理論方法。由測量多種主元素分析線(xiàn)的凈強度（這些主成分之和應接近100%）并使用X射線(xiàn)熒光強度的理論公式來(lái)校正元素間的相互影響（吸收增強效應）�；緟捣ǹ梢栽谝欢ǖ臏蚀_度下提供可靠的分析結果。它既不需要校準曲線(xiàn)，也不需要從經(jīng)驗中提取校正系數。它只需要少量可靠的標準樣品在確定的儀器條件下計算每個(gè)分析元素的純元素強度即可。采用X射線(xiàn)熒光方法,適應范圍廣泛，工作曲線(xiàn)，方法可自由選取，修定。對各種科研，分析單位的適應能力強。
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